We introduce a procedure based on quantum expectation values of measurement observables to characterize quantum coherence. Our measure allows one to quantify coherence without having to perform tomography of the quantum state and can be directly calculated from measurement expectation values. This definition of coherence allows the decomposition into contributions corresponding to the nonclassical correlations between the subsystems and localized on each subsystem. The method can also be applied to cases where the full set of measurement operators is unavailable. An estimator using the truncated measurement operators can be used to obtain lower bound to the genuine value of coherence. We illustrate the method for several bipartite systems and show the singular behavior of the coherence measure in a spin-1 chain, characteristic of a quantum phase transition.Received 21 January 2019Revised 15 October 2019Accepted 19 December 2019DOI:https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.2.013157Published by the American Physical Society under the terms of the Creative Commons Attribution 4.0 International license. Further distribution of this work must maintain attribution to the author(s) and the published article's title, journal citation, and DOI.Published by the American Physical SocietyPhysics Subject Headings (PhySH)Research AreasQuantum coherence & coherence measuresResource theoriesQuantum InformationGeneral Physics

We introduce a procedure based on quantum expectation values of measurement observables to characterize quantum coherence. In a bipartite system, the two-point correlation function is used in combination with the Schatten-1 norm to estimate the quantum coherence. This definition of coherence allows the decomposition into contributions corresponding to the non-classical correlations between the subsystems and localized on each subsystem. We illustrate the method for several bipartite systems, showing that an incomplete basis still gives a qualitative measure of the coherence.

Side by side RGB OLEDs‐on‐Silicon backplane holds great promise for high brightness, high resolution and low cost Micro OLED displays. The main challenge of vacuum thermal evaporation (VTE) patterning technique is to get a submricon‐size shadow distance. Herein, we have explored the relation of shadow distance with mask‐substrate gap, as well as the relationship of shadow distance with evaporation angle. The achievements verify the possibility of manufacturing the ultra‐high resolution side by side RGB AMOLEDs with >4000ppi. The study of ultra‐high resolution evaporation patterning need to be expanded for the OLED microdisplays futures.

In this study, we successfully accomplished a one‐to‐one micro‐lens array with pixel via printing technology on a hydrophobic film layer without pattern. By meticulous adjustments to the lens printing process and device structure, we achieved a notable increase in current efficiency exceeding 30% for RGB OELD.